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GB/T 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-1993 電工電子

IP防護(hù)等級(jí)測試設(shè)備的要求(數(shù)字的意義) IP防護(hù)等級(jí)介紹: IP防護(hù)等級(jí)說明(按照EN60529/IEC60529/GB4208) 防護(hù)等級(jí)IP54， IP為標(biāo)記字母，數(shù)字5為第一標(biāo)記數(shù)字，4為第二標(biāo)記數(shù)字第一標(biāo)記數(shù)字表示接觸保護(hù)和外來物保護(hù)等級(jí)

一． 鹽霧的腐蝕 　腐蝕是材料或其性能在環(huán)境的作用下引起的破壞或變質(zhì)。大多數(shù)的腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中，大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。

手機(jī)跌落試驗(yàn) 測試條件：跌落高度1.5m高度，20mm厚地板。（對于PDA手機(jī),根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m） 測試目的： 跌落沖擊試驗(yàn)